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TU Berlin

Inhalt des Dokuments

Patents

Employing Opportunistic Scanning for Architecture, System, and Technology Discovery
Zitatschlüssel emmelmann13employing_opportunistic_scanning
Autor Emmelmann, Marc and Wiethölter, Sven and Lim, Hyung-Taek
Jahr 2013
Journal pending patent
Nummer USPTO US 61/186,528
Typ der Publikation Patents
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