direkt zum Inhalt springen

direkt zum Hauptnavigationsmenü

Sie sind hier

TU Berlin

Inhalt des Dokuments

Patents

Employing Opportunistic Scanning for Architecture, System, and Technology Discovery
Citation key emmelmann13employing_opportunistic_scanning
Author Emmelmann, Marc and Wiethölter, Sven and Lim, Hyung-Taek
Year 2013
Journal pending patent
Number USPTO US 61/186,528
Bibtex Type of Publication Patents
Download Bibtex entry

Zusatzinformationen / Extras

Quick Access:

Schnellnavigation zur Seite über Nummerneingabe

Auxiliary Functions

Search Publications